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磁共振電阻抗成像系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)驗(yàn)

The Design of Magnetic Resonance Electrical Impedance Tomography System and Its Experiment

作者: 何永波;宋濤;王慧賢;楊旭 
單位:中國科學(xué)院電工研究所電磁生物工程部,北京,100080;中國科學(xué)院研究生院,北京,100039%中國科學(xué)院電工研究所電磁生物工程部,北京,100080
關(guān)鍵詞: 磁共振電阻抗成像%自旋回波序列%信噪比%相展開 
分類號:
出版年·卷·期(頁碼):2006·25·2(118-121)
摘要:

介紹了磁共振電阻抗成像系統(tǒng)設(shè)計(jì).該系統(tǒng)以PC機(jī)為核心單元,實(shí)現(xiàn)可視化交互、數(shù)據(jù)處理和成像;采用基于PCI總線的數(shù)據(jù)采集控制卡實(shí)現(xiàn)電流注入、電極選通、信號預(yù)處理以及與磁共振設(shè)備(MRI)成像序列的時序匹配,對惡劣電磁環(huán)境下高信噪比的信號測量采用了特殊電磁兼容設(shè)計(jì).基于此系統(tǒng)提出了利用兩個方向上磁通密度分量和外圍電壓重構(gòu)圖像的設(shè)想,給出了實(shí)驗(yàn)方案和初步結(jié)果.

參考文獻(xiàn):

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